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2026-07-25 09:24
7月25日消息,国家知识产权局信息显示,合肥晶合集成电路股份有限公司申请一项名为“一种浸没式光刻图形水浸入型缺陷改善方法”的专利,授权公告号CN121785058B,授权公告日为2026年7月21日。申请公布号为CN121785058A,申请号为CN202610274800.5,申请公布日期为2026年7月21日,申请日期为2026年3月9日,发明人赵志豪、李海峰、沈俊明,专利代理机构北京成创同维知识产权代理有限公司,专利代理师甄丹凤,分类号G03F7/20。
专利摘要显示,本申请公开了一种浸没式光刻图形水浸入型缺陷改善方法,包括:在衬底上依次形成目标光阻层和牺牲光阻层;对所述目标光阻层和所述牺牲光阻层进行浸没式曝光处理;去除所述牺牲光阻层;对剩余的目标光阻层进行显影处理。本申请实施例提供的浸没式光刻图形水浸入型缺陷改善方法,在目标光阻层的表面形成牺牲光阻层,浸入型的缺陷形成于牺牲光阻层中,避免目标光阻层中形成浸入型缺陷,提升制程良率,同时,浸没水缺陷的降低有利于提高光刻、蚀刻线宽稳定性。
晶合集成是国内领先的专注于晶圆代工的特色工艺厂商,2015年5月19日成立,2023年5月5日于上海证券交易所上市,注册地与办公地均涉及安徽省合肥市。
晶合集成主营业务为12英寸晶圆代工业务,聚焦研发应用先进工艺,为客户提供多制程节点、多工艺平台的晶圆代工服务,所属申万行业为电子-半导体-集成电路制造,覆盖MCU概念、集成电路、半导体产业等概念板块。
2025年晶合集成实现营业收入108.85亿元,在所属7家同行业企业中排名第4,当期行业营收第一名中芯国际为673.23亿元、第二名华虹宏力为172.91亿元,行业营收平均数为166.12亿元,中位数为108.85亿元;营收构成中集成电路晶圆制造代工收入103.57亿元,占比95.14%,其他(补充)收入4.97亿元,占比4.57%,其余其他收入3176.68万元,占比0.29%。同期公司实现净利润4.66亿元,同样在7家同行业企业中位列第4,行业净利润第一名中芯国际为72.09亿元、第二名赛微电子为13.88亿元,行业净利润平均数为9.67亿元,中位数为4.66亿元。
| 指标类型 | 当期数值 | 行业排名/总家数 | 行业头部对标值 | 行业平均数 | 行业中位数 |
|---|---|---|---|---|---|
| 营业收入 | 108.85亿元 | 4/7 | 中芯国际673.23亿元、华虹宏力172.91亿元 | 166.12亿元 | 108.85亿元 |
| 净利润 | 4.66亿元 | 4/7 | 中芯国际72.09亿元、赛微电子13.88亿元 | 9.67亿元 | 4.66亿元 |
| 核心业务收入占比 | 95.14% | - | - | - | - |
合肥晶合集成电路股份有限公司近期专利情况如下:
| 序号 | 专利名称 | 专利类型 | 法律状态 | 申请号 | 申请日期 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日期 | 发明人 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 曝光场间的对准标记及其形成方法、封测工艺 | 发明专利 | 公布 | CN202610902754.9 | 2026-06-23 | CN122431066A | 2026-07-21 | 张传稳、陈晓妍、於飞飞 |
| 2 | 晶圆生产工艺流程管控方法、电子设备和存储介质 | 发明专利 | 公布 | CN202610902753.4 | 2026-06-23 | CN122453119A | 2026-07-24 | 黄柱、檀明伟、沈统一、范夏玲 |
| 3 | 光掩模版设计图形的处理方法、处理装置及存储介质 | 发明专利 | 公布 | CN202610894083.6 | 2026-06-22 | CN122410885A | 2026-07-17 | 殷诗淇、罗招龙、王康 |
| 4 | 半导体结构及其制备方法 | 发明专利 | 公布 | CN202610893210.0 | 2026-06-22 | CN122438361A | 2026-07-21 | 章航、郭哲劭、郭廷晃、薛翔、宋明 |
| 5 | 一种半导体结构的制作方法 | 发明专利 | 公布 | CN202610893494.3 | 2026-06-22 | CN122438556A | 2026-07-21 | 牛苗苗、高志杰 |
| 6 | 一种晶圆键合方法及键合晶圆 | 发明专利 | 公布 | CN202610882602.7 | 2026-06-18 | CN122421814A | 2026-07-17 | 伍德超、郝小强、梁健、张立弟、张天阳 |
| 7 | 半导体器件及其制备方法、芯片 | 发明专利 | 公布 | CN202610888879.0 | 2026-06-18 | CN122421383A | 2026-07-17 | 宋明、郭哲劭、郭廷晃 |
| 8 | 一种二极管的测量结构、测量方法及集成电路 | 发明专利 | 公布 | CN202610873754.0 | 2026-06-17 | CN122396281A | 2026-07-14 | 张立涛、姚子凤、张倩、方昕、郑启涛 |
| 9 | 一种半导体结构及其制备方法 | 发明专利 | 公布 | CN202610874647.X | 2026-06-17 | CN122396131A | 2026-07-14 | 周成 |
| 10 | 一种光刻胶膜层涂布情况的检测方法 | 发明专利 | 公布 | CN202610873529.7 | 2026-06-17 | CN122410902A | 2026-07-17 | 张雅丽、赵志豪、黄玉、毛文龙 |
| 11 | 半导体结构、半导体存储器及其制作方法 | 发明专利 | 公布 | CN202610874649.9 | 2026-06-17 | CN122421333A | 2026-07-17 | 庄鹏程、宋富冉、刘乃硕 |
| 12 | 半导体结构的制备方法及半导体结构 | 发明专利 | 公布 | CN202610859340.2 | 2026-06-15 | CN122396222A | 2026-07-14 | 张会成、高志杰 |
| 13 | 文本识别方法、系统及存储介质 | 发明专利 | 公布 | CN202610856457.5 | 2026-06-15 | CN122392084A | 2026-07-14 | 杨思磊、陈云飞、李飞 |
| 14 | 一种晶圆关键尺寸量测方法、系统及机台 | 发明专利 | 公布 | CN202610851078.7 | 2026-06-12 | CN122421738A | 2026-07-17 | 余钿钿 |
| 15 | 一种OPC建模方法、系统及计算机可读存储介质 | 发明专利 | 公布 | CN202610822265.2 | 2026-06-09 | CN122386578A | 2026-07-14 | 王康 |
| 16 | 晶圆的量测方法及系统 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610813374.8 | 2026-06-08 | CN122349353A | 2026-07-07 | 蒋智 |
| 17 | 一种半导体结构的制造方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610795445.6 | 2026-06-04 | CN122318838A | 2026-06-30 | 马亚强、季小龙、张正、沐凡、韩壮壮 |
| 18 | 半导体制程异常处理方法、装置、设备、介质和程序产品 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610795944.5 | 2026-06-04 | CN122333300A | 2026-07-03 | 王佑祥 |
| 19 | 用于光阻沉积厚度的监控晶圆、监控方法和存储介质 | 发明专利 | 公布 | CN202610796173.1 | 2026-06-04 | CN122396285A | 2026-07-14 | 陈弋轩 |
| 20 | 缺陷分类模型的建立方法以及缺陷分类方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610789298.1 | 2026-06-03 | CN122336446A | 2026-07-03 | 李璐、张利强、杜悦珲、鄢志忠、李佛富、林今焕 |
| 21 | 一种SRAM最小工作电压的量测方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610788371.3 | 2026-06-03 | CN122337290A | 2026-07-03 | 沈洁、田志锋、刘波 |
| 22 | 半导体结构及其制备方法、半导体器件 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610778881.2 | 2026-06-02 | CN122340888A | 2026-07-03 | 张盖、南子昱、王雪 |
| 23 | 干法刻蚀系统、干法刻蚀方法以及半导体结构的制备方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610757823.1 | 2026-05-29 | CN122314744A | 2026-06-30 | 李文超、刘然、罗成、杨智强 |
| 24 | MOM电容结构的SPICE模型的建立方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610759023.3 | 2026-05-29 | CN122311103A | 2026-06-30 | 胡杰、张良宵、王晓辉、沈浩然 |
| 25 | 半导体结构及其制作方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610761688.8 | 2026-05-29 | CN122318267A | 2026-06-30 | 张德培、周宁宁、王梦慧 |
| 26 | 晶圆清洗方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610747037.3 | 2026-05-28 | CN122270072A | 2026-06-23 | 刘苏涛、曹平 |
| 27 | 半导体工厂作业场景的安全预警方法、装置和设备 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610740384.3 | 2026-05-27 | CN122265950A | 2026-06-23 | 毛周亮、徐旻芮、夏慧、颜传奇、黄世豪 |
| 28 | 栅极介质层的制备方法和半导体结构 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610741566.2 | 2026-05-27 | CN122269774A | 2026-06-23 | 周亚龙、朱海龙、晏荣伟、李嘉伦、罗承先 |
| 29 | 一种半导体结构的制备方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610729686.0 | 2026-05-26 | CN122341196A | 2026-07-03 | 李文超、杨智强、林子荏、张旭 |
| 30 | 半导体器件的外延层结构形成方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610719734.8 | 2026-05-25 | CN122248783A | 2026-06-19 | 谢斌根、董宗谕 |
| 31 | 安全工作区量测方法、电子设备和可读存储介质 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610705221.1 | 2026-05-21 | CN122238814A | 2026-06-19 | 刘家昌、陈帅、程文祥、汪小小 |
| 32 | 图像传感器及其制作方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610702601.X | 2026-05-21 | CN122248817A | 2026-06-19 | 张鹏鹏、贾涛 |
| 33 | 接触孔缺陷检测方法、装置、设备、介质和程序产品 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610694586.9 | 2026-05-20 | CN122218003A | 2026-06-16 | 李璐、张利强、杜悦珲、鄢志忠、李佛富、林今焕 |
| 34 | 半导体缺陷智能分析方法及装置 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610693288.8 | 2026-05-20 | CN122244026A | 2026-06-19 | 杜悦珲、张利强、李璐、鄢志忠、李佛富、林今焕 |
| 35 | 半导体结构及其制备方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610695713.7 | 2026-05-20 | CN122318270A | 2026-06-30 | 魏巍、任大雅、李猛猛、唐鹏飞 |
| 36 | 一种半导体设备的参数化单元的选项的自动生成方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610685344.3 | 2026-05-19 | CN122221790A | 2026-06-16 | 前田圭司、伊藤真浩 |
| 37 | 集成功率器件及其制备方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610685210.1 | 2026-05-19 | CN122248782A | 2026-06-19 | 周宁宁、王梦慧、陈信全 |
| 38 | 一种半导体器件及其制备方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610677493.5 | 2026-05-18 | CN122227654A | 2026-06-16 | 姜恒、李毅、施平 |
| 39 | 检索模型的训练方法、检索方法和电子设备 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610674244.0 | 2026-05-15 | CN122198022A | 2026-06-12 | 张潇、郭雅静、萧礼明、张贺、蒋治纬 |
| 40 | 一种反应腔室的漏率监测方法、装置及半导体工艺设备 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610667786.5 | 2026-05-15 | CN122217543A | 2026-06-16 | 王昆、周俊、刘志强、徐阳 |
| 41 | LDMOS器件的阈值电压的APC方法、系统、介质及产品 | 发明专利 | 授权 | CN202610667846.3 | 2026-05-15 | CN122205903B | 2026-07-24 | 陈晓妍、王梦慧 |
| 42 | 一种半导体器件及其制作方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610660032.7 | 2026-05-14 | CN122205918A | 2026-06-12 | 韩小虎、邓少鹏 |
| 43 | 半导体版图结构及双栅氧化层制备方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610663071.2 | 2026-05-14 | CN122205953A | 2026-06-12 | 徐锐、宋聪强 |
| 44 | 一种半导体器件及其制作方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610659999.3 | 2026-05-14 | CN122205917A | 2026-06-12 | 韩小虎、邓少鹏 |
| 45 | 芯片布局模型的训练方法、芯片布局方法及相关装置 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610646614.X | 2026-05-12 | CN122174775A | 2026-06-09 | 郭雅静、张潇、齐天翔、萧礼明、蒋治纬 |
| 46 | 半导体结构及制备方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610644817.5 | 2026-05-12 | CN122180135A | 2026-06-09 | 巫振伟、汪雪春 |
| 47 | 一种半导体器件的测试方法及测试装置 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610644841.9 | 2026-05-12 | CN122193862A | 2026-06-12 | 刘至宜、汪小小、陈帅、张慧玲 |
| 48 | 光阻层的形成方法及半导体结构 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610637283.3 | 2026-05-11 | CN122161422A | 2026-06-05 | 赵志豪、李海峰、沈俊明 |
| 49 | 半导体结构、栅极结构的制备方法及降低缺陷的方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610627967.5 | 2026-05-09 | CN122180129A | 2026-06-09 | 张鑫、周晓慧、马亚强、陈学刚 |
| 50 | 半导体结构及制备方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610602466.1 | 2026-05-06 | CN122138409A | 2026-06-02 | 胡文婷、许春龙、陈婉露 |
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